Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2011
Marielle Clot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00649928
Soumis le : vendredi 9 décembre 2011-10:33:05
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:16:44
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00649928 , version 1
Citer
P. Delcroix, S. Blonkowski, M. Kogelschatz. Pre-Breakdown Negative Differential Resistance in thin oxide film: Conductive-Atomic Force Microscopy observation and modelling. Journal of Applied Physics, 2011, pp.110, 034104. ⟨hal-00649928⟩
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