Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00604565
Soumis le : mercredi 29 juin 2011-11:27:20
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:18:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00604565 , version 1
Citer
L. Negre, Daniel Roy, S. Boret, P. Scheer, N. Kauffmann, et al.. Impact of hot carrier stress on small signal MOSFET RF parameters. IEEE Integrated Reliability Workshop IRW 2010, 2010, Lake Tahoe, United States. ⟨hal-00604565⟩
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