Unusually long carrier lifetime in a Mott insulator revealed by time-resolved Photoemission Electron Microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

Unusually long carrier lifetime in a Mott insulator revealed by time-resolved Photoemission Electron Microscopy

Keiki Fukumoto
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1353543
KEK
Benoit Corraze
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1121233
Julien Tranchant
Maciej Lorenc
Hervé Cailleau
Shinya Koshihara
Laurent Cario

Résumé

Mott insulators display puzzling insulator to metal transitions under electric field. We study here the Mott insulator GaV4S8 using time-resolved Photoemission Electron Microcopy and reveal unusually long carrier lifetimes, supporting the mechanism of electronic avalanche.
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Babich et al. - 2020 - Unusually long carrier lifetime in a Mott insulato.pdf (288.71 Ko) Télécharger le fichier
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Dates et versions

hal-03092746 , version 1 (02-01-2021)

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Citer

Danylo Babich, Keiki Fukumoto, Benoit Corraze, Julien Tranchant, Maciej Lorenc, et al.. Unusually long carrier lifetime in a Mott insulator revealed by time-resolved Photoemission Electron Microscopy. Frontiers in Optics / Laser Science (2020), Sep 2020, Washington DC, United States. pp.LTu8F.3, ⟨10.1364/LS.2020.LTu8F.3⟩. ⟨hal-03092746⟩
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