Unusually long carrier lifetime in a Mott insulator revealed by time-resolved Photoemission Electron Microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2020

Unusually long carrier lifetime in a Mott insulator revealed by time-resolved Photoemission Electron Microscopy

Keiki Fukumoto
  • Fonction : Auteur
KEK
Julien Tranchant
Maciej Lorenc
Hervé Cailleau
Laurent Cario
Etienne Janod
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Vignette du fichier
Babich et al. - 2020 - Unusually long carrier lifetime in a Mott insulato.pdf (288.71 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03092746 , version 1 (02-01-2021)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03092746 , version 1

Citer

Danylo Babich, Keiki Fukumoto, Benoit Corraze, Julien Tranchant, Maciej Lorenc, et al.. Unusually long carrier lifetime in a Mott insulator revealed by time-resolved Photoemission Electron Microscopy. Frontiers in Optics / Laser Science (2020), Sep 2020, Washington, United States. ⟨hal-03092746⟩
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