Process-Voltage-Temperature Analysis of a CMOS-MEMS Readout Architecture - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Process-Voltage-Temperature Analysis of a CMOS-MEMS Readout Architecture

Fichier principal
Vignette du fichier
Ferreira et al. - 2019 - Process-Voltage-Temperature Analysis of a CMOS-MEMS Readout Architecture.pdf (388.45 Ko) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-02290321 , version 1 (18-10-2022)

Identifiants

Citer

Pietro Maris Ferreira, João R. Raposo de O. Martins, Ali Mostafa, Jérôme Juillard. Process-Voltage-Temperature Analysis of a CMOS-MEMS Readout Architecture. Proc. IEEE Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS, May 2019, Paris, France. ⟨10.1109/DTIP.2019.8752699⟩. ⟨hal-02290321⟩
42 Consultations
93 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More