Process-Voltage-Temperature Analysis of a CMOS-MEMS Readout Architecture - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Process-Voltage-Temperature Analysis of a CMOS-MEMS Readout Architecture

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique
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Ferreira et al. - 2019 - Process-Voltage-Temperature Analysis of a CMOS-MEMS Readout Architecture.pdf (388.45 Ko) Télécharger le fichier
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https://hal.science/hal-02290321

Soumis le : mardi 18 octobre 2022-15:11:36

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:28:14

Archivage à long terme le : jeudi 19 janvier 2023-18:47:30

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hal-02290321 , version 1 (18-10-2022)

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Citer

Pietro Maris Ferreira, João R. Raposo de O. Martins, Ali Mostafa, Jérôme Juillard. Process-Voltage-Temperature Analysis of a CMOS-MEMS Readout Architecture. Proc. IEEE Design, Test, Integration & Packaging of MEMS/MOEMS, May 2019, Paris, France. ⟨10.1109/DTIP.2019.8752699⟩. ⟨hal-02290321⟩

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