Characterization techniques for SOI materials and transistors. - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00604936 , version 1 (30-06-2011)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00604936 , version 1

Citer

S. Cristoloveanu. Characterization techniques for SOI materials and transistors.. 1st Korean International Summer School on Nanoelectronics (nano-KISS 2010) SOI Technology : Materials, Devices, and Applications,, Apr 2010, Daegu, South Korea. ⟨hal-00604936⟩
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