High-temperature performance of state-of-the-art triple-gate transistors - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2007
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00393582 , version 1 (09-06-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00393582 , version 1

Citer

K. Akarvardar, A. Mercha, E. Simoen, N. Subramanian, C. Claeys, et al.. High-temperature performance of state-of-the-art triple-gate transistors. Microelectronics Reliability, 2007, 47 (12), pp.2065-2069. ⟨hal-00393582⟩
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