Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00392096
Soumis le : vendredi 5 juin 2009-14:58:29
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:27:21
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00392096 , version 1
Citer
G. Hamaide, F. Allibert, S. Cristoloveanu. Impact of surface and buried interface passivation on ultrathin SOI electrical properties. IEEE International SOI Conference, New Paltz, New York, USA, Oct 2008, New-York, United States. ⟨hal-00392096⟩
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