Communication Dans Un Congrès
Année : 2006
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00147154
Soumis le : mercredi 16 mai 2007-09:17:57
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:27:10
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00147154 , version 1
Citer
L. Zafari, J. Jomaah, G. Ghibaudo, O. Faynot. Low Frequency Noise Performance in TiN/HfO2 Fully Depleted SOI nMOSFET. IEEE Int. SOI Conference, 2006, USA, United States. pp.XX. ⟨hal-00147154⟩
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