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Article Dans Une Revue Journal de Physique III Année : 1996

Study of the Electron Mean Free Path by Ballistic Electron Emission Microscopy

C. Girardin
  • Fonction : Auteur
Roland Coratger
Renaud Péchou
François Ajustron
  • Fonction : Auteur
J. Beauvillain
  • Fonction : Auteur

Résumé

Ballistic Electron Emission Microscopy allows buried interfaces to be characterized with a subnanometer resolution. Additionnally, the electron mean free path in a thin metal layer can thus be investigated with a good level of accuracy. This paper presents the latest results in this field for an Au/n-Si Schottky diode. A discussion is also proposed to link these results with the still controversial interpretations of BEEM contrasts.

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Dates et versions

jpa-00249483 , version 1 (04-02-2008)

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Citer

C. Girardin, Roland Coratger, Renaud Péchou, François Ajustron, J. Beauvillain. Study of the Electron Mean Free Path by Ballistic Electron Emission Microscopy. Journal de Physique III, 1996, 6 (5), pp.661-669. ⟨10.1051/jp3:1996148⟩. ⟨jpa-00249483⟩

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