Communication Dans Un Congrès Année : 2025

Étude de la fiabilité des GaN SP-HEMT sous surtensions en commutation dure

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hal-05495813 , version 1 (05-02-2026)

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  • HAL Id : hal-05495813 , version 1

Citer

Thomas Vadebout, Pascal Bevilacqua, Valeria Rustichelli, Hervé Morel, Maroun Alam, et al.. Étude de la fiabilité des GaN SP-HEMT sous surtensions en commutation dure. Symposium de Génie Électrique SGE 2025, cnrs, ups, Jul 2025, Toulouse, France. ⟨hal-05495813⟩
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