Influence of edge defects on sapphire failure
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https://hal.science/hal-04706682
Soumis le : lundi 23 septembre 2024-18:05:02
Dernière modification le : vendredi 20 décembre 2024-03:31:47
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- HAL Id : hal-04706682 , version 1
Citer
Aurélien Doitrand, Ronan Henry, Sylvain Meille. Influence of edge defects on sapphire failure. 2024. ⟨hal-04706682v1⟩
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