Explanation of edge defect influence on sapphire bending strength scatter using the coupled criterion - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of the European Ceramic Society Année : 2025

Explanation of edge defect influence on sapphire bending strength scatter using the coupled criterion

Aurélien Doitrand
Matériaux, ingénierie et science [Villeurbanne]
CV
Ronan Henry
Groupe de physique des matériaux
Sylvain Meille
Matériaux, ingénierie et science [Villeurbanne]
CV

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  • HAL Id : hal-04706682 , version 2

Citer

Aurélien Doitrand, Ronan Henry, Sylvain Meille. Explanation of edge defect influence on sapphire bending strength scatter using the coupled criterion. Journal of the European Ceramic Society, 2025, 45 (4), pp.117052. ⟨hal-04706682v2⟩

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