Importance of electric resistance monitoring in shear test - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2018
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Dates et versions

hal-04580150 , version 1 (19-05-2024)

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Citer

S. Zanella, A. Lecavelier Des Etangs-Levallois, E. Charkaluk, W.C. Maia Filho, A. Constantinescu. Importance of electric resistance monitoring in shear test. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.733-737. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.063⟩. ⟨hal-04580150⟩
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