Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2018
Andrei Constantinescu : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04580150
Soumis le : dimanche 19 mai 2024-16:32:53
Dernière modification le : mardi 29 octobre 2024-15:42:15
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-04580150 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2018.06.063
Citer
S. Zanella, A. Lecavelier Des Etangs-Levallois, E. Charkaluk, W.C. Maia Filho, A. Constantinescu. Importance of electric resistance monitoring in shear test. Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.733-737. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.063⟩. ⟨hal-04580150⟩
Collections
25
Consultations
0
Téléchargements