Scanning Tunnelling Microscopy STM, Atomic Force Microscopy AFM - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Cours Année : 2015

Dates et versions

hal-04487580 , version 1 (03-03-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04487580 , version 1

Citer

Ludovic Douillard. Scanning Tunnelling Microscopy STM, Atomic Force Microscopy AFM. Doctoral. Université Paris-Saclay, Orsay, France, France. 2015. ⟨hal-04487580⟩
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