Reliability Emphasized MTJ/CMOS Hybrid Circuit Towards Ultra-Low Power - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04477704 , version 1 (26-02-2024)

Identifiants

Citer

Hao Cai, Menglin Han, You Wang, Lirida Naviner, Xinning Liu, et al.. Reliability Emphasized MTJ/CMOS Hybrid Circuit Towards Ultra-Low Power. 2018 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), Nov 2018, Lyon, France. pp.1-5, ⟨10.1109/DCIS.2018.8681471⟩. ⟨hal-04477704⟩
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