Reliability Emphasized MTJ/CMOS Hybrid Circuit Towards Ultra-Low Power - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Reliability Emphasized MTJ/CMOS Hybrid Circuit Towards Ultra-Low Power

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

Lirida Naviner  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04477704

Soumis le : lundi 26 février 2024-14:02:28

Dernière modification le : mercredi 23 octobre 2024-10:30:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04477704 , version 1 (26-02-2024)

Identifiants

Citer

Hao Cai, Menglin Han, You Wang, Lirida Naviner, Xinning Liu, et al.. Reliability Emphasized MTJ/CMOS Hybrid Circuit Towards Ultra-Low Power. 2018 Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS), Nov 2018, Lyon, France. pp.1-5, ⟨10.1109/DCIS.2018.8681471⟩. ⟨hal-04477704⟩

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