Article Dans Une Revue
Journal of Electronic Materials
Année : 2016
Bilel HAFSI : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04422392
Soumis le : dimanche 28 janvier 2024-18:42:43
Dernière modification le : mardi 30 janvier 2024-10:04:55
Citer
B. Hafsi, A. Boubaker, David Guérin, S. Lenfant, A. Kalboussi, et al.. Traps and Interface Fixed Charge Effects on a Solution-Processed n-Type Polymeric-Based Organic Field-Effect Transistor. Journal of Electronic Materials, 2016, 46 (2), pp.1128-1136. ⟨10.1007/s11664-016-5067-3⟩. ⟨hal-04422392⟩
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