Alpha-Particle Induced Soft-Error Rate in CMOS 130nm SRAM - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04393659 , version 1 (14-01-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04393659 , version 1

Citer

Sebastien Martinie, Jean-Luc Autran, Slawosz Uznanski, Philippe Roche, Gilles Gasiot, et al.. Alpha-Particle Induced Soft-Error Rate in CMOS 130nm SRAM. 11th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2010), Sep 2010, Längenfeld, Austria. ⟨hal-04393659⟩
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