Alpha-Particle Induced Soft-Error Rate in CMOS 130nm SRAM - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Alpha-Particle Induced Soft-Error Rate in CMOS 130nm SRAM

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Jean-Luc Autran  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04393659

Soumis le : dimanche 14 janvier 2024-22:52:53

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04393659 , version 1 (14-01-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04393659 , version 1

Citer

Sebastien Martinie, Jean-Luc Autran, Slawosz Uznanski, Philippe Roche, Gilles Gasiot, et al.. Alpha-Particle Induced Soft-Error Rate in CMOS 130nm SRAM. 11th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS 2010), Sep 2010, Längenfeld, Austria. ⟨hal-04393659⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-TLN CNRS UNIV-AMU IM2NP
9 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More