Vectorial Method used to Monitor a XPS Evolving System: Titanium Oxide Thin Films under UV Illumination - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Vectorial Method used to Monitor a XPS Evolving System: Titanium Oxide Thin Films under UV Illumination

Solène Béchu
Neal Fairley
  • Fonction : Auteur
Luc Brohan
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 871977

Domaines

Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04390649 , version 1 (12-01-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04390649 , version 1

Citer

Solène Béchu, Neal Fairley, Luc Brohan, Vincent Fernandez, Mireille Richard-Plouet. Vectorial Method used to Monitor a XPS Evolving System: Titanium Oxide Thin Films under UV Illumination. AVS 65th International Symposium & Exhibition, Oct 2018, Long Beach (CA), United States. ⟨hal-04390649⟩
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