Communication Dans Un Congrès
Année : 2023
Raphael Sommet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04351485
Soumis le : lundi 18 décembre 2023-17:40:04
Dernière modification le : vendredi 8 mars 2024-10:16:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-04351485 , version 1
Citer
Sujan Sarkar, Khallil Karrame, Khade Ramdas Pandurang, Florent Gaillard, Jean-Christophe Nallatamby, et al.. Thermoreflectance Measurement: Effect of GaN Cap Layer and Carbon Doped Buffer Layer on Thermal Resistance of HEMTs. XXII International Workshop on Physics of Semiconductor Devices, Dec 2023, Chennai (India), India. ⟨hal-04351485⟩
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