Comparing electron tomography and HRTEM slicing methods as tools to measure the thickness of nanoparticles - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Ultramicroscopy Année : 2009

Comparing electron tomography and HRTEM slicing methods as tools to measure the thickness of nanoparticles

C. Ricolleau
  • Fonction : Auteur
T. Oikawa
  • Fonction : Auteur
C. Langlois
  • Fonction : Auteur
Y. Le Bouar
  • Fonction : Auteur
A. Loiseau
  • Fonction : Auteur

Dates et versions

hal-04276885 , version 1 (09-11-2023)

Identifiants

Citer

D. Alloyeau, C. Ricolleau, T. Oikawa, C. Langlois, Y. Le Bouar, et al.. Comparing electron tomography and HRTEM slicing methods as tools to measure the thickness of nanoparticles. Ultramicroscopy, 2009, 109 (7), pp.788-796. ⟨10.1016/j.ultramic.2009.02.002⟩. ⟨hal-04276885⟩
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