Comparing electron tomography and HRTEM slicing methods as tools to measure the thickness of nanoparticles

D. Alloyeau; C. Ricolleau; T. Oikawa; C. Langlois; Y. Le Bouar; A. Loiseau

doi:10.1016/j.ultramic.2009.02.002

Article Dans Une Revue Ultramicroscopy Année : 2009

Comparing electron tomography and HRTEM slicing methods as tools to measure the thickness of nanoparticles

(1) , , , , ,

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D. Alloyeau

Fonction : Auteur
PersonId : 742609
IdHAL : damien-alloyeau
ORCID : 0000-0002-6528-5698
IdRef : 127555048

Laboratoire Matériaux et Phénomènes Quantiques

C. Ricolleau

Fonction : Auteur

T. Oikawa

Fonction : Auteur

C. Langlois

Fonction : Auteur

Y. Le Bouar

Fonction : Auteur

A. Loiseau

Fonction : Auteur

Domaines

Physique [physics]

Damien Alloyeau : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04276885

Soumis le : jeudi 9 novembre 2023-11:57:21

Dernière modification le : vendredi 17 mai 2024-13:44:03

Dates et versions

hal-04276885 , version 1 (09-11-2023)

Identifiants

HAL Id : hal-04276885 , version 1
DOI : 10.1016/j.ultramic.2009.02.002

Citer

D. Alloyeau, C. Ricolleau, T. Oikawa, C. Langlois, Y. Le Bouar, et al.. Comparing electron tomography and HRTEM slicing methods as tools to measure the thickness of nanoparticles. Ultramicroscopy, 2009, 109 (7), pp.788-796. ⟨10.1016/j.ultramic.2009.02.002⟩. ⟨hal-04276885⟩

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