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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2022

EEPROM endurance degradation at different temperatures: State of the art TCAD simulation

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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

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hal-03941108 , version 1 (22-03-2023)

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Citer

Franck Matteo, Karine Coulié, Roberto Simola, Jérémy Postel-Pellerin, Franck Melul, et al.. EEPROM endurance degradation at different temperatures: State of the art TCAD simulation. Microelectronics Reliability, 2022, 136, pp.114717. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114717⟩. ⟨hal-03941108⟩
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