X-ray diffraction and stress relaxations to study thermal and stress-assisted annealings in nanocrystalline gold thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Acta Materialia Année : 2019

X-ray diffraction and stress relaxations to study thermal and stress-assisted annealings in nanocrystalline gold thin films

P. Godard
T. Sadat
  • Fonction : Auteur
M. Drouet
  • Fonction : Auteur
D. Thiaudière
  • Fonction : Auteur
P.O. Renault

Dates et versions

hal-03893714 , version 1 (11-12-2022)

Identifiants

Citer

P. Godard, D. Faurie, T. Sadat, M. Drouet, D. Thiaudière, et al.. X-ray diffraction and stress relaxations to study thermal and stress-assisted annealings in nanocrystalline gold thin films. Acta Materialia, 2019, 173, pp.87-95. ⟨10.1016/j.actamat.2019.04.024⟩. ⟨hal-03893714⟩
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