X-ray diffraction and stress relaxations to study thermal and stress-assisted annealings in nanocrystalline gold thin films

P. Godard; D. Faurie; T. Sadat; M. Drouet; D. Thiaudière; P.O. Renault

doi:10.1016/j.actamat.2019.04.024

Article Dans Une Revue Acta Materialia Année : 2019

X-ray diffraction and stress relaxations to study thermal and stress-assisted annealings in nanocrystalline gold thin films

, (1) , , , ,

1

P. Godard

Fonction : Auteur
PersonId : 762183
ORCID : 0000-0002-5402-6033
IdRef : 140798072

D. Faurie

Fonction : Auteur
PersonId : 748295
IdHAL : damien-faurie
ORCID : 0000-0001-7259-3958
IdRef : 095054766

Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux

CV

T. Sadat

Fonction : Auteur

M. Drouet

Fonction : Auteur

D. Thiaudière

Fonction : Auteur

P.O. Renault

Fonction : Auteur
PersonId : 759478
ORCID : 0000-0002-0736-2333
IdRef : 094945497

Domaines

Physique [physics]

Damien Faurie : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03893714

Soumis le : dimanche 11 décembre 2022-17:15:23

Dernière modification le : vendredi 29 novembre 2024-03:29:30

Dates et versions

hal-03893714 , version 1 (11-12-2022)

Identifiants

HAL Id : hal-03893714 , version 1
DOI : 10.1016/j.actamat.2019.04.024

Citer

P. Godard, D. Faurie, T. Sadat, M. Drouet, D. Thiaudière, et al.. X-ray diffraction and stress relaxations to study thermal and stress-assisted annealings in nanocrystalline gold thin films. Acta Materialia, 2019, 173, pp.87-95. ⟨10.1016/j.actamat.2019.04.024⟩. ⟨hal-03893714⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-PARIS13 CNRS OCA LSPM_P13 USPC GALILE SORBONNE-PARIS-NORD ACT-R

44 Consultations

0 Téléchargements

X-ray diffraction and stress relaxations to study thermal and stress-assisted annealings in nanocrystalline gold thin films

Domaines

Dates et versions

Identifiants

Citer

Exporter

Collections

Altmetric

Partager