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Article Dans Une Revue Microwave and Optical Technology Letters Année : 2018

Non-contact thickness measurement with multilayer radiation structure

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03825234 , version 1 (22-10-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03825234 , version 1

Citer

Haroune Feddal, Mohamed Tellache, Mohamed El Afendi, Junwu Tao. Non-contact thickness measurement with multilayer radiation structure. Microwave and Optical Technology Letters, 2018. ⟨hal-03825234⟩
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