Article Dans Une Revue
Microwave and Optical Technology Letters
Année : 2018
Junwu TAO : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03825234
Soumis le : samedi 22 octobre 2022-09:56:57
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:24
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03825234 , version 1
Citer
Haroune Feddal, Mohamed Tellache, Mohamed El Afendi, Junwu Tao. Non-contact thickness measurement with multilayer radiation structure. Microwave and Optical Technology Letters, 2018. ⟨hal-03825234⟩
Collections
24
Consultations
0
Téléchargements