Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2020

Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction

L. Bruas
  • Fonction : Auteur
V. Boureau
A. Conlan
S. Martinie
  • Fonction : Auteur
D. Cooper
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03798997 , version 1 (05-10-2022)

Identifiants

Citer

L. Bruas, V. Boureau, A. Conlan, S. Martinie, Jean-Luc Rouviere, et al.. Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction. Journal of Applied Physics, 2020, 127 (20), pp.205703. ⟨10.1063/5.0006969⟩. ⟨hal-03798997⟩
13 Consultations
0 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More