Article Dans Une Revue
Journal of Applied Physics
Année : 2020
Jean-Luc Rouviere : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03798997
Soumis le : mercredi 5 octobre 2022-15:47:10
Dernière modification le : mercredi 15 mai 2024-13:42:16
Citer
L. Bruas, V. Boureau, A. Conlan, S. Martinie, Jean-Luc Rouviere, et al.. Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction. Journal of Applied Physics, 2020, 127 (20), pp.205703. ⟨10.1063/5.0006969⟩. ⟨hal-03798997⟩
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