Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2020

Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction

L. Bruas
  • Fonction : Auteur
V. Boureau
A. Conlan
S. Martinie
  • Fonction : Auteur
Jean-Luc Rouviere
Laboratoire d'Etude des Matériaux par Microscopie Avancée
CV
D. Cooper
Département Plate-Forme Technologique

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci] Matériaux Micro et nanotechnologies/Microélectronique Optique / photonique Autre [cond-mat.other]

Jean-Luc Rouviere  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03798997

Soumis le : mercredi 5 octobre 2022-15:47:10

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-09:59:41

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hal-03798997 , version 1 (05-10-2022)

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Citer

L. Bruas, V. Boureau, A. Conlan, S. Martinie, Jean-Luc Rouviere, et al.. Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction. Journal of Applied Physics, 2020, 127 (20), pp.205703. ⟨10.1063/5.0006969⟩. ⟨hal-03798997⟩

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