Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing - Archive ouverte HAL
Ouvrages Année : 2021

Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing

Kim Phuc Tran
Génie et Matériaux Textiles
Ecole nationale supérieure des arts et industries textiles de Roubaix (ENSAIT)

Domaines

Intelligence artificielle [cs.AI] Statistiques [math.ST] Automatique / Robotique
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Soumis le : dimanche 27 février 2022-15:30:05

Dernière modification le : lundi 22 avril 2024-16:54:06

Archivage à long terme le : samedi 28 mai 2022-18:04:37

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Dates et versions

hal-03561200 , version 1 (27-02-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03561200 , version 1

Citer

Kim Phuc Tran (Dir.). Control Charts and Machine Learning for Anomaly Detection in Manufacturing. 2021. ⟨hal-03561200⟩

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