N°Spécial De Revue/Special Issue
Microelectronics Reliability
Année : 2021
Isabelle FAVRE : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03408633
Soumis le : vendredi 29 octobre 2021-11:35:08
Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:22
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03408633 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2021.114403
Citer
Nathalie Labat, François Marc, Hélène Frémont, Nicolas Nolhier. Proceedings of the 32nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis. 32nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2021), Oct 2021, Bordeaux, France. Microelectronics Reliability, pp.114403, 2021, ⟨10.1016/j.microrel.2021.114403⟩. ⟨hal-03408633⟩
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