Proceedings of the 32nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - Archive ouverte HAL
N°Spécial De Revue/Special Issue Microelectronics Reliability Année : 2021

Proceedings of the 32nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis

Nathalie Labat
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 845366
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
François Marc
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Hélène Frémont
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Nicolas Nolhier
Équipe Énergie et Systèmes Embarqués

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Isabelle FAVRE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03408633

Soumis le : vendredi 29 octobre 2021-11:35:08

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:22

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Dates et versions

hal-03408633 , version 1 (29-10-2021)

Identifiants

Citer

Nathalie Labat, François Marc, Hélène Frémont, Nicolas Nolhier. Proceedings of the 32nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis. 32nd European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2021), Oct 2021, Bordeaux, France. Microelectronics Reliability, pp.114403, 2021, ⟨10.1016/j.microrel.2021.114403⟩. ⟨hal-03408633⟩

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