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Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2021

On-line temperature measurement during power cycle of PCB-embedded diode

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hal-03380506 , version 1 (05-01-2024)

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Said Bensebaa, Mounira Bouarroudj-Berkani, Mickael Petit, Stéphane Lefebvre. On-line temperature measurement during power cycle of PCB-embedded diode. Microelectronics Reliability, 2021, pp.114313. ⟨10.1016/j.microrel.2021.114313⟩. ⟨hal-03380506⟩
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