Article Dans Une Revue
X-Ray Spectrometry
Année : 1989
Maria Filomena Guerra : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02920382
Soumis le : lundi 24 août 2020-16:02:20
Dernière modification le : mercredi 1 décembre 2021-14:36:41
Citer
F. Gil, G. Barreira, M. Guerra, L. Alves. Quantitative elemental analysis of thick samples by XRF and PIXE. X-Ray Spectrometry, 1989, 18 (4), pp.157-164. ⟨10.1002/xrs.1300180406⟩. ⟨hal-02920382⟩
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