Grain structure of multi-crystalline silicon : x-ray synchrotron imaging characterization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Grain structure of multi-crystalline silicon : x-ray synchrotron imaging characterization

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02895195 , version 1 (09-07-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02895195 , version 1

Citer

Amina Tandjaoui, R. Reboud, C. Garnier, Thierry Duffar. Grain structure of multi-crystalline silicon : x-ray synchrotron imaging characterization. International Workshop of Crystal Growth Technology, Jun 2014, Berlin, France. ⟨hal-02895195⟩
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