Grain structure of multi-crystalline silicon : x-ray synchrotron imaging characterization - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Grain structure of multi-crystalline silicon : x-ray synchrotron imaging characterization

Amina Tandjaoui
Centrale Lille
CV
R. Reboud
  • Fonction : Auteur
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés
C. Garnier
  • Fonction : Auteur
Thierry Duffar
  • Fonction : Auteur
Elaboration par procédés magnétiques

Domaines

Mécanique [physics.med-ph]

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https://hal.science/hal-02895195

Soumis le : jeudi 9 juillet 2020-15:15:17

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02895195 , version 1 (09-07-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02895195 , version 1

Citer

Amina Tandjaoui, R. Reboud, C. Garnier, Thierry Duffar. Grain structure of multi-crystalline silicon : x-ray synchrotron imaging characterization. International Workshop of Crystal Growth Technology, Jun 2014, Berlin, France. ⟨hal-02895195⟩

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