Communication Dans Un Congrès
Année : 2013
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https://hal.science/hal-02594804
Soumis le : vendredi 15 mai 2020-19:14:58
Dernière modification le : jeudi 1 août 2024-13:48:06
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-02594804 , version 1
Citer
E.V. Johnson, Bastien Bruneau, Pierre-Alexandre Delattre, Trevor Lafleur, Jean-Paul Booth. IN-SITU OBSERVATION OF MICROCRYSTALLINE SILICON THIN FILM GROWTH USING TAILORED VOLTAGE WAVEFORMS. International Vacuum Conference, Sep 2013, Paris, France. ⟨hal-02594804⟩
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