IN-SITU OBSERVATION OF MICROCRYSTALLINE SILICON THIN FILM GROWTH USING TAILORED VOLTAGE WAVEFORMS - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

IN-SITU OBSERVATION OF MICROCRYSTALLINE SILICON THIN FILM GROWTH USING TAILORED VOLTAGE WAVEFORMS

E.V. Johnson
CV
Bastien Bruneau
  • Fonction : Auteur
Unité Expérimentale de Physiologie Animale de l‘Orfrasiére
Pierre-Alexandre Delattre
  • Fonction : Auteur
Laboratoire de Physique des Plasmas
Trevor Lafleur
Laboratoire de Physique des Plasmas
Jean-Paul Booth
Laboratoire de Physique des Plasmas
CV

Domaines

Physique des plasmas [physics.plasm-ph]

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https://hal.science/hal-02594804

Soumis le : vendredi 15 mai 2020-19:14:58

Dernière modification le : jeudi 1 août 2024-13:48:06

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02594804 , version 1 (15-05-2020)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02594804 , version 1

Citer

E.V. Johnson, Bastien Bruneau, Pierre-Alexandre Delattre, Trevor Lafleur, Jean-Paul Booth. IN-SITU OBSERVATION OF MICROCRYSTALLINE SILICON THIN FILM GROWTH USING TAILORED VOLTAGE WAVEFORMS. International Vacuum Conference, Sep 2013, Paris, France. ⟨hal-02594804⟩

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