Novel On-Resistance based Methodology for MOSFET Electrical Characterization - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid-State Electronics Année : 2019

Dates et versions

hal-02379974 , version 1 (20-05-2022)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

Citer

T.A. Karatsori, K. Bennamane, Gérard Ghibaudo. Novel On-Resistance based Methodology for MOSFET Electrical Characterization. Solid-State Electronics, 2019, pp.107722. ⟨10.1016/j.sse.2019.107722⟩. ⟨hal-02379974⟩
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