Incorporating knowledge on the measurement noise in electrical impedance tomography
Domaines
Optimisation et contrôle [math.OC]Origine | Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte |
---|
Origine | Fichiers éditeurs autorisés sur une archive ouverte |
---|
Marc Dambrine : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02127599
Soumis le : mardi 20 février 2024-10:11:40
Dernière modification le : vendredi 3 mai 2024-10:44:35