Article Dans Une Revue
Materials Science Forum
Année : 2018
Etienne Gheeraert : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01990947
Soumis le : mercredi 23 janvier 2019-15:07:27
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:20:17
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01990947 , version 1
- DOI : 10.4028/www.scientific.net/MSF.924.935
Citer
Khaled Driche, Hitoshi Umezawa, Shinya Ohmagari, Hajime Okumura, Yoshiaki Mokuno, et al.. Electric Field Characterization of Diamond Metal Semiconductor Field Effect Transistors Using Electron Beam Induced Current. Materials Science Forum, 2018, 924, pp.935-938. ⟨10.4028/www.scientific.net/MSF.924.935⟩. ⟨hal-01990947⟩
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