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Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Real-cases of electromagnetic immunity and reliability in embedded electronics architectures

Jean-Marc Diénot
Emmanuel Batista
  • Fonction : Auteur

Résumé

This papers concerns works about electromagnetic immunity and reliability investigations on electronics devices, combined with different physical impacts as temperature.
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
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Dates et versions

hal-01977489 , version 1 (10-01-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01977489 , version 1
  • OATAO : 8345

Citer

Jean-Marc Diénot, Emmanuel Batista. Real-cases of electromagnetic immunity and reliability in embedded electronics architectures. EUROEM 2012, Jul 2012, Toulouse, France. pp.87. ⟨hal-01977489⟩
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