Technologies et caractérisation de résistances à base nanofils de silicium : mesure de la résistivité électrique des nanofils - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Technologies et caractérisation de résistances à base nanofils de silicium : mesure de la résistivité électrique des nanofils

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Anne-Claire Salaün  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01962691

Soumis le : jeudi 20 décembre 2018-17:45:30

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:12

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Dates et versions

hal-01962691 , version 1 (20-12-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01962691 , version 1

Citer

Laurent Pichon, Aurelie Girard, Olivier de Sagazan, Regis Rogel, Anne-Claire Salaün. Technologies et caractérisation de résistances à base nanofils de silicium : mesure de la résistivité électrique des nanofils. CETSIS, Oct 2018, Fes, Morocco. ⟨hal-01962691⟩

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