Communication Dans Un Congrès
Année : 1995
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https://hal.science/hal-01904261
Soumis le : mercredi 24 octobre 2018-17:54:59
Dernière modification le : mercredi 21 janvier 2026-06:54:31
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Identifiants
- HAL Id : hal-01904261 , version 1
Citer
E. M. Skouri, P. Martin, P. Arguel, P. Grech, Laurent Chusseau, et al.. Mesure des indices de réfraction de semiconducteurs composés III-V et de guides plans par la technique de couplage par un réseau de diffraction. Journées d'Étude "Procédés et Modèles pour la Micro-Optique Passive", 1995, Georgia Tech Lorraine, Metz, France. ⟨hal-01904261⟩
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