Communication Dans Un Congrès Année : 1995
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Dates et versions

hal-01904261 , version 1 (24-10-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01904261 , version 1

Citer

E. M. Skouri, P. Martin, P. Arguel, P. Grech, Laurent Chusseau, et al.. Mesure des indices de réfraction de semiconducteurs composés III-V et de guides plans par la technique de couplage par un réseau de diffraction. Journées d'Étude "Procédés et Modèles pour la Micro-Optique Passive", 1995, Georgia Tech Lorraine, Metz, France. ⟨hal-01904261⟩
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