Article Dans Une Revue
Microporous and Mesoporous Materials
Année : 2016
Christophe THIBAULT : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01784759
Soumis le : jeudi 3 mai 2018-17:15:21
Dernière modification le : vendredi 1 mars 2024-18:38:39
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01784759 , version 1
- DOI : 10.1016/j.micromeso.2016.02.039
Citer
Balint Fodor, Emil Agocs, Benjamin Bardet, Thomas Defforge, Frederic Cayrel, et al.. Porosity and Thickness Characterization of Porous Si and Oxidized Porous Si layers – an ultraviolet-visible-mid Infrared Ellipsometry Study. Microporous and Mesoporous Materials, 2016, 227, pp.112-120. ⟨10.1016/j.micromeso.2016.02.039⟩. ⟨hal-01784759⟩
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