Thin films of pure vanadium nitride: Evidence for anomalous non-faradaic capacitance - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Power Sources Année : 2016

Thin films of pure vanadium nitride: Evidence for anomalous non-faradaic capacitance

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01723417 , version 1 (05-03-2018)

Identifiants

Citer

Oleksandr Bondarchuk, Alban Morel, Daniel Belanger, Eider Goikolea, Thierry Brousse, et al.. Thin films of pure vanadium nitride: Evidence for anomalous non-faradaic capacitance. Journal of Power Sources, 2016, 324, pp.439 - 446. ⟨10.1016/j.jpowsour.2016.05.093⟩. ⟨hal-01723417⟩
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